Richard ARINERO
IES - Institut d'Electronique et des Systèmes, Pôle de Recherche Mathématiques, Informatique, Physique, Systèmes, Université de Montpellier
Microscopie à force atomique
Avancées MOSFET
Ferroélectriques sans plomb
Erreurs douces
Dépôt de couche atomique
Ion-Surface Interactions
Atomic Force Microscopy
MOSFET Advancements
Lead-Free Ferroelectrics
Soft Errors
Atomic Layer Deposition
Ion-Surface Interactions