- Title
- Measurement of radiations of high influence by a capacitive element of MOS type
- Creators - without role
- Richard Arinero - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJulien Mekki - European Organization for Nuclear ResearchAntoine Touboul - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESFrédéric Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJ.-R. Vaillé - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Publisher
- United States
- Identifiers
- 9944917509311
- Academic Unit
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Language
- English
- Resource Type
- Patent
- Patent
- US Patent 8,981,308
- Local Fields
- hal-01791141
Patent
Measurement of radiations of high influence by a capacitive element of MOS type
17/03/2015
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