Abstract
This talk higlights the conflicting goal of harware security and harware testing. Some scan and BIST solutions are presented.
- Title
- Test and Harware Security
- Creators - without role
- Marion Doulcier - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMMGiorgio Di Natale - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesMarie-Lise Flottes - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniquesBruno Rouzeyre - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
- Conference
- pastis 2008 (France, 02/12/2008–03/12/2008)
- Identifiers
- 9947550309311
- Academic Unit
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMM
- Language
- English
- Resource Type
- Other
- Local Fields
- lirmm-00365276