研究速報 : Monolithically Integrated Diode Laser Detection System for Scanning Near-Field Optical Microscopy (SNOM) : VCSEL Technology

Article de revue

Sabry Khalfallah, Jean Podlecki, Masao Nishioka, Christophe Gorecki, Hideki Kawakatsu, Hiroyuki Fujita, Takao Someya et Yasuhiko Arakawa

生産研究, Vol.51(8), pp.634-637

08/1999

Indicateurs

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Titre: 研究速報 : Monolithically Integrated Diode Laser Detection System for Scanning Near-Field Optical Microscopy (SNOM) : VCSEL Technology
Créateurs - sans rôle: Sabry Khalfallah - 東京大学
Jean Podlecki - 東京大学
Masao Nishioka - 東京大学
Christophe Gorecki - 東京大学
Hideki Kawakatsu - 東京大学
Hiroyuki Fujita - 東京大学
Takao Someya - 東京大学
Yasuhiko Arakawa - 東京大学
Détails de publication: 生産研究, Vol.51(8), pp.634-637
Éditeur: 東京大学生産技術研究所
Identifiants: 99162742709311
Unité académique: Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Langue: English
Type de ressource: Journal article