Three-dimensional tomography of single charge inside dielectric materials using electrostatic force microscopy

Article de revue

Avec comité de lecture

Clément Riedel, Richard Arinero, Angel Alegria, Juan Colmenero et Juan José Saenz

MRS Online Proceedings Library, Vol.1421

01/2012

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Titre: Three-dimensional tomography of single charge inside dielectric materials using electrostatic force microscopy
Créateurs - sans rôle: Clément Riedel - Donostia International Physics Center
Richard Arinero - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Angel Alegria - Consejo Superior de Investigaciones Científicas
Juan Colmenero - Donostia International Physics Center
Juan José Saenz - Donostia International Physics Center
Détails de publication: MRS Online Proceedings Library, Vol.1421
Identifiants: 99150512709311
Unité académique: Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Langue: English
Type de ressource: Journal article
Champs locaux: hal-01633523