- Title
- The Use of a Dose-Rate Switching Technique to Characterize Bipolar Devices
- Creators - without role
- Jérôme Boch - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESYago Gonzalez Velo - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESFrédéric Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESNicolas J.-H. Roche - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESAntoine Touboul - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJean-Roch Vaillé - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESLaurent Dusseau - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESEric Lorfèvre - Centre National d'Études SpatialesRobert Ecoffet - Centre National d'Études SpatialesChristian Chatry - TRAD [Labège]Ronald D. Schrimpf - Vanderbilt University
- Publication Details
- IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.56(6), pp.3347 - 3353
- Identifiers
- 9943855609311
- Academic Unit
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Language
- English
- Resource Type
- Journal article
- Local Fields
- hal-01631612
Journal article
The Use of a Dose-Rate Switching Technique to Characterize Bipolar Devices
IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.56(6), pp.3347 - 3353
12/2009
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