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Terahertz imaging using strained-Si MODFETs as sensors
Article de revue   Avec comité de lecture

Terahertz imaging using strained-Si MODFETs as sensors

Yahya Moubarak Meziani, Enrique Garcìa-Garcìa, Jesús Enrique Velazquez-Perez, Dominique Coquillat, Nina Diakonova, Wojciech Knap, Ignas Grigelionis et Kristel Fobelets
Solid-State Electronics, Vol.83, pp.113-117
05/2013

Résumé

Terahertz SiGe MODFET Imaging Sensors

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