Survey of Low-Power Testing of VLSI Circuits

Journal article

Peer reviewed

IEEE Design & Test, Vol.19(3), pp.82-92

2002

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Title: Survey of Low-Power Testing of VLSI Circuits
Creators - without role: Patrick Girard - Laboratoire d'Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
Publication Details: IEEE Design & Test, Vol.19(3), pp.82-92
Identifiers: 9946149609311
Academic Unit: Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMM
Language: English
Resource Type: Journal article
Local Fields: lirmm-00268584