Spatial analysis of electronic noise in submicron semiconductor structures

Article de revue

Avec comité de lecture

Tomas González, Daniel Pardo, Luca Varani et Lino Reggiani

Applied physics letters, Vol.63(1), pp.84-86

05/07/1993

Résumé

Computational Physics

Condensed Matter

Electronics

Engineering Sciences

Materials Science

Physics

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Titre: Spatial analysis of electronic noise in submicron semiconductor structures
Créateurs - sans rôle: Tomas González - Universidad de Salamanca [España] = University of Salamanca [Spain]
Daniel Pardo
Luca Varani - CNR-INFM and Dipartimento di Fisica, Università di Modena e Reggio Emilia
Lino Reggiani - Dipartimento di Ingegneria dell’Innovazione, Universita’ di Lecce and INFM
Détails de publication: Applied physics letters, Vol.63(1), pp.84-86
Éditeur: American Institute of Physics
Nombre de pages: 3
Identifiants: 99162130009311
Unité académique: Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Langue: English
Type de ressource: Journal article