- Titre
- Single-Event Upsets in Substrate-Etched CMOS SOI SRAMs Using Ultraviolet Optical Pulses With Sub-Micrometer Spot Size
- Créateurs - sans rôle
- Dale Mcmorrow - United States Naval Research LaboratoryAni Khachatrian - Sotera Defense SolutionsNicolas J.-H. Roche - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJeffrey H. Warner - United States Naval Research LaboratoryStephen P. Buchner - United States Naval Research LaboratoryNderitu Kanyogoro - Sotera Defense SolutionsJoseph S. Melinger - United States Naval Research LaboratoryVincent Pouget - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESCamille Larue - Institut Polytechnique de BordeauxAlan Hurst - ON SemiconductorDan Kagey - ON Semiconductor
- Détails de publication
- IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.60(6), pp.4184 - 4191
- Identifiants
- 99150633109311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Journal article
- Champs locaux
- hal-01633902
Article de revue
Single-Event Upsets in Substrate-Etched CMOS SOI SRAMs Using Ultraviolet Optical Pulses With Sub-Micrometer Spot Size
IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.60(6), pp.4184 - 4191
12/2013
Indicateurs
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