- Titre
- SIMS localization of nitrogen in the leaf of soybean: basis of quantitative procedures by localized measurements of isotopic ratios
- Créateurs - sans rôle
- N. Grignon - Université de Montpellier, Institut des Sciences des Plantes de Montpellier - IPSiMJ. JeussetE. LebeauC. Moro - Université de Montpellier, Institut des Sciences des Plantes de Montpellier - IPSiMAlain Gojon - Université de Montpellier, Institut des Sciences des Plantes de Montpellier - IPSiMP. Fragu
- Détails de publication
- Journal of Trace and Microprobe Techniques, Vol.17(4), pp.477-490
- Identifiants
- 99152276909311
- Unité académique
- Institut des Sciences des Plantes de Montpellier - IPSiM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Journal article
- Champs locaux
- hal-02693653
Article de revue
SIMS localization of nitrogen in the leaf of soybean: basis of quantitative procedures by localized measurements of isotopic ratios
Journal of Trace and Microprobe Techniques, Vol.17(4), pp.477-490
1999
Indicateurs
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