- Title
- Review and Analysis of the Radiation-Induced Degradation Observed for the Input Bias Current of Linear Integrated Circuits
- Creators - without role
- Laurent Dusseau - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESMuriel Bernard - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJérôme Boch - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESYago Gonzalez Velo - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESNicolas Roche - Institut d'Électronique et des SystèmesEric Lorfèvre - Centre National d'Études SpatialesFrancoise Bezerra - Centre National d'Études SpatialesPhilippe Calvel - ThalesRonan Marec - ThalesFrédéric Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Publication Details
- IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.55(6), pp.3174 - 3181
- Identifiers
- 9943952809311
- Academic Unit
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Language
- English
- Resource Type
- Journal article
- Local Fields
- hal-01630081
Journal article
Review and Analysis of the Radiation-Induced Degradation Observed for the Input Bias Current of Linear Integrated Circuits
IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.55(6), pp.3174 - 3181
12/2008
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