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Rearrangement zone around a crack tip in a double self-assembled transient network
Article de revue   Open Access

Rearrangement zone around a crack tip in a double self-assembled transient network

Guillaume Foyart, Christian Ligoure, Serge Mora et Laurence Ramos
ACS Macro Letters, Vol.5, pp.1080-1083
13/09/2016

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