- Titre
- Quantitative thermoreflectance imaging: calibration method and validation on a dedicated integrated circuit
- Créateurs - sans rôle
- Gilles Tessier - Micro et nanothermiqueSophie Pavageau - Micro et nanothermiqueBenoit Charlot - Micro et nanothermiqueCéline Filloy - Micro et nanothermiqueDanièle Fournier - Micro et nanothermiqueBernard Cretin - Micro et nanothermiqueStephan Dhilaire - Micro et nanothermiqueSeverine Gomes - Micro et nanothermiqueNathalie Trannoy - Micro et nanothermiquePascal Vairac - Micro et nanothermiqueSebastian Volz - Micro et nanothermique
- Détails de publication
- IEEE transactions on components and packaging technologies, Vol.30(4), pp.604-608
- Éditeur
- Institute of Electrical and Electronics Engineers
- Nombre de pages
- 5
- Identifiants
- 99162032009311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Journal article
Article de revue
Quantitative thermoreflectance imaging: calibration method and validation on a dedicated integrated circuit
IEEE transactions on components and packaging technologies, Vol.30(4), pp.604-608
01/12/2007
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