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Pulsed-Laser Testing for Single-Event Effects Investigations
Article de revue   Avec comité de lecture

Pulsed-Laser Testing for Single-Event Effects Investigations

S. Buchner, F. Miller, V. Pouget et D. P. Mcmorrow
IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.60(3), pp.1852 - 1875
06/2013

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