- Titre
- Probe Characterization for Electromagnetic Near-Field Studies
- Créateurs - sans rôle
- Sylvie Jarrix - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESTristan Dubois - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESD. Gasquet - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESP. Nouvel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESR. Adam - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESB. Azais - Direction Générale de l'Armement
- Détails de publication
- IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Vol.59(2), pp.292 - 300
- Identifiants
- 99150621809311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Journal article
- Champs locaux
- hal-01632350
Article de revue
Probe Characterization for Electromagnetic Near-Field Studies
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Vol.59(2), pp.292 - 300
02/2010
Indicateurs
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