Power-Driven Routing-Constrained Scan Chain Design

Journal article

Peer reviewed

Yannick Bonhomme, Patrick Girard, Loïs Guiller, Christian Landrault and Serge Pravossoudovitch

Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, Vol.20(6), pp.647-660

2004

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Title: Power-Driven Routing-Constrained Scan Chain Design
Creators - without role: Yannick Bonhomme - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMM
Patrick Girard - Université de Montpellier
Loïs Guiller - Synopsys
Christian Landrault - Université de Montpellier
Serge Pravossoudovitch - Université de Montpellier
Publication Details: Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, Vol.20(6), pp.647-660
Identifiers: 9934649409311
Academic Unit: Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMM
Language: English
Resource Type: Journal article
Local Fields: lirmm-00108581