Abstract
Après avoir donné les principales définitions et grandeurs physiques liées au bruit, on indique les principales sources de bruit dans les semiconducteurs. On montre ensuite l'intérêt des mesures de bruit dans les matériaux, en tant que moyen de caractérisation technologique et physique. On indique ensuite quelles sont les méthodes modernes de modélisation du bruit des composants, et on termine en mettant l'accent sur les problèmes spécifiques rencontrés dans les composants submicroniques.