Origin of High Total Dose Sensitivity on the OP400 Bipolar Operational Amplifier

Journal article

Peer reviewed

Muriel Bernard, Laurent Dusseau, Soilihi Moindjie and Thierry Bouchet

IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.55(6), pp.3224 - 3230

12/2008

Files and links (1)

url

Find in HALView

1 Record Views

Title: Origin of High Total Dose Sensitivity on the OP400 Bipolar Operational Amplifier
Creators - without role: Muriel Bernard - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Laurent Dusseau - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Soilihi Moindjie - Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
Thierry Bouchet - ADIS Innovation
Publication Details: IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.55(6), pp.3224 - 3230
Identifiers: 9937630609311
Academic Unit: Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Language: English
Resource Type: Journal article
Local Fields: hal-01630286