Ordered mesoporous silica and alumina thin films studied by X-ray scattering

Journal article

M. Klotz, N. Idrissi-Kandri, A. Ayral, A. van Der Lee and C. Guizard

Journal de Physique IV Proceedings, Vol.12(6), pp.283 - 290

07/2002

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Title: Ordered mesoporous silica and alumina thin films studied by X-ray scattering
Creators - without role: M. Klotz - Université de Montpellier, Institut Européen des Membranes - IEM
N. Idrissi-Kandri
A. Ayral - Université de Montpellier, Institut Européen des Membranes - IEM
A. van Der Lee - Université de Montpellier, Institut Européen des Membranes - IEM
C. Guizard - Université de Montpellier, Institut Européen des Membranes - IEM
Publication Details: Journal de Physique IV Proceedings, Vol.12(6), pp.283 - 290
Identifiers: 9943654609311
Academic Unit: Institut Européen des Membranes - IEM
Language: English
Resource Type: Journal article
Local Fields: hal-01726390