- Title
- On the Use of Post-Irradiation-Gate-Stress Results to Refine Sensitive Operating Area Determination
- Creators - without role
- A. Privat - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESAntoine Touboul - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESA. Michez - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESS. Bourdarie - Institut Superieur de l'Aeronautique et de l'Espace (ISAE-SUPAERO)J.-R. Vaillé - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESFrédéric Wrobel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESN. Chatry - TRAD [Labège]G. Chaumont - STMicroelectronicsE. Lorfèvre - Centre National d'Études SpatialesF. Bezerra - Centre National d'Études SpatialesF. Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Publication Details
- IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.61(6), pp.2930 - 2935
- Identifiers
- 9939706709311
- Academic Unit
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Language
- English
- Resource Type
- Journal article
- Local Fields
- hal-01635347
Journal article
On the Use of Post-Irradiation-Gate-Stress Results to Refine Sensitive Operating Area Determination
IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.61(6), pp.2930 - 2935
12/2014
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