- Title
- Neutrons-Induced IGBT Failure: Effects of the Number of Tested Devices on the Cross Section Calculation
- Creators - without role
- Antoine Touboul - Institut d'Électronique et des SystèmesLionel L. Foro - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESFrédéric Wrobel - Institut d'Électronique et des SystèmesKarima Guetarni - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJérôme Boch - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESFrédéric Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Publication Details
- IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.60(4), pp.2392 - 2396
- Identifiers
- 9944560309311
- Academic Unit
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Language
- English
- Resource Type
- Journal article
- Local Fields
- hal-01634418
Journal article
Neutrons-Induced IGBT Failure: Effects of the Number of Tested Devices on the Cross Section Calculation
IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.60(4), pp.2392 - 2396
08/2013
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