- Title
- Microprocessor Error Diagnosis by Trace Monitoring Under Laser Testing
- Creators - without role
- M. Pena-Fernandez - ArquimeaA. Lindoso - Universidad Carlos III de MadridL. Entrena - Universidad Carlos III de MadridI. Lopes - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESVincent Pouget - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Publication Details
- IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.68(8), pp.1651-1659
- Identifiers
- 9945760809311
- Academic Unit
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Language
- English
- Resource Type
- Journal article
- Local Fields
- hal-03428150
Journal article
Microprocessor Error Diagnosis by Trace Monitoring Under Laser Testing
IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.68(8), pp.1651-1659
19/03/2021
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