Measurement of film thickness up to several hundreds of nanometers using optical waveguide lightmode spectroscopy

Article de revue

Avec comité de lecture

Frédéric Cuisinier, Catherine Picart, Csilla Gergely, Youri Arntz, Jean-Claude Voegel, Pierre Schaaf, Frédéric J.G. Cuisinier et Bernard Senger

Biosensors and Bioelectronics, Vol.20(3), pp.553 - 561

10/2004

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Titre: Measurement of film thickness up to several hundreds of nanometers using optical waveguide lightmode spectroscopy
Créateurs - sans rôle: Frédéric Cuisinier
Catherine Picart - Inserm
Csilla Gergely - Université de Montpellier, Laboratoire Charles Coulomb - L2C
Youri Arntz - Inserm
Jean-Claude Voegel - Inserm
Pierre Schaaf - Institut Charles Sadron
Frédéric J.G. Cuisinier - Inserm
Bernard Senger - Inserm
Détails de publication: Biosensors and Bioelectronics, Vol.20(3), pp.553 - 561
Identifiants: 99161740109311
Unité académique: Laboratoire Charles Coulomb - L2C
Langue: English
Type de ressource: Journal article
Champs locaux: hal-01743292