- Title
- Mass density determination of thin organosilicon films by X-ray reflectometry
- Creators - without role
- A. van Der Lee - Université de Montpellier, Institut Européen des Membranes - IEMS. Roualdes - Université de Montpellier, Institut Européen des Membranes - IEMR. Berjoan - Centre National de la Recherche ScientifiqueJ. Durand - Université de Montpellier, Institut Européen des Membranes - IEM
- Publication Details
- Applied Surface Science, Vol.173(1-2), pp.115 - 121
- Identifiers
- 9944278009311
- Academic Unit
- Institut Européen des Membranes - IEM
- Language
- English
- Resource Type
- Journal article
- Local Fields
- hal-01737533
Journal article
Mass density determination of thin organosilicon films by X-ray reflectometry
Applied Surface Science, Vol.173(1-2), pp.115 - 121
03/2001
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