Low Power Scan Chain Design: A Solution for an Efficient Tradeoff Between Test Power and Scan Routing

Journal article

Peer reviewed

Patrick Girard and Yannick Bonhomme

Journal of Low Power Electronics, Vol.1(1), pp.85-95

2005

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Title: Low Power Scan Chain Design: A Solution for an Efficient Tradeoff Between Test Power and Scan Routing
Creators - without role: Patrick Girard - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
Yannick Bonhomme - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMM
Publication Details: Journal of Low Power Electronics, Vol.1(1), pp.85-95
Identifiers: 9938815309311
Academic Unit: Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMM
Language: English
Resource Type: Journal article
Local Fields: lirmm-00105357