Improving Defect Detection in Static-Voltage Testing

Article de revue

Avec comité de lecture

Michel Renovell, Florence Azaïs et Yves Bertrand

IEEE Design & Test, Vol.17(6), pp.83-89

2002

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Titre: Improving Defect Detection in Static-Voltage Testing
Créateurs - sans rôle: Michel Renovell - Chimie Moléculaire, Macromoléculaire, Matériaux
Florence Azaïs - Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques
Yves Bertrand - Chimie Moléculaire, Macromoléculaire, Matériaux
Détails de publication: IEEE Design & Test, Vol.17(6), pp.83-89
Identifiants: 99153438809311
Unité académique: Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMM
Langue: English
Type de ressource: Journal article
Champs locaux: lirmm-00268605