- Title
- Impact of Complex-Logic Cell Layout on the Single-Event Transient Sensitivity
- Creators - without role
- Y. AguiarFrédéric Wrobel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJean-Luc Autran - Laboratoire matériaux et microélectronique de ProvenceP. Leroux - Le Mans UniversitéFrédéric Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESAntoine Touboul - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESV. Pouget - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Publication Details
- IEEE Transactions on Nuclear Science, pp.1-1
- Identifiers
- 9944137109311
- Academic Unit
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Language
- English
- Resource Type
- Journal article
- Local Fields
- hal-02136500
Journal article
Impact of Complex-Logic Cell Layout on the Single-Event Transient Sensitivity
IEEE Transactions on Nuclear Science, pp.1-1
22/05/2019
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