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High-quality Al 0.48In 0.52As grown by molecular beam epitaxy at high InP-substrate temperature
Article de revue   Avec comité de lecture

High-quality Al 0.48In 0.52As grown by molecular beam epitaxy at high InP-substrate temperature

Eric Tournié, Yong-Hang Zhang et Klaus Ploog
Materials letters, Vol.11(10), pp.343-347
1991

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