- Titre
- High Defect Coverage with Low Power Test Sequences in a BIST Environment
- Créateurs - sans rôle
- Patrick Girard - Laboratoire d'Informatique, de Robotique et de Microélectronique de MontpellierChristian Landrault - Université de Montpellier, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMMSerge Pravossoudovitch - Laboratoire de Conception et d'Intégration des SystèmesArnaud Virazel - Laboratoire de Conception et d'Intégration des SystèmesHans-Joachim Wunderlich - University of Stuttgart
- Détails de publication
- IEEE Design & Test, Vol.19(5), pp.44-52
- Identifiants
- 99150815109311
- Unité académique
- Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMM
- Langue
- English
- Type de ressource
- Journal article
- Champs locaux
- lirmm-00268585
Article de revue
High Defect Coverage with Low Power Test Sequences in a BIST Environment
IEEE Design & Test, Vol.19(5), pp.44-52
2002
Indicateurs
1 Consultations de la notice