Fault modeling and fault equivalence in CMOS technology

Article de revue

Avec comité de lecture

Marie -Lise Flottes, Christian Landrault et Serge Pravossoudovitch

Journal of electronic testing, Vol.2(3), pp.229-241

08/1991

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Titre: Fault modeling and fault equivalence in CMOS technology
Créateurs - sans rôle: Marie -Lise Flottes
Christian Landrault
Serge Pravossoudovitch
Détails de publication: Journal of electronic testing, Vol.2(3), pp.229-241
Nombre de pages: 13
Identifiants: 99139514309311
Unité académique: Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMM
Langue: English
Type de ressource: Journal article