- Title
- Fast power cycling protocols implemented in an automated test bench dedicated to IGBT module ageing
- Creators - without role
- François Forest - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESAmgad Rashed - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJean-Jacques Huselstein - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESThierry Martire - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESPhilippe Enrici - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Publication Details
- Microelectronics Reliability, Vol.55(1), pp.81 - 92
- Identifiers
- 9943847309311
- Academic Unit
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Language
- English
- Resource Type
- Journal article
- Local Fields
- hal-01629261
Journal article
Fast power cycling protocols implemented in an automated test bench dedicated to IGBT module ageing
Microelectronics Reliability, Vol.55(1), pp.81 - 92
01/2015
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