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Extreme mutation bias and high AT content in Plasmodium falciparum
Article de revue   Avec comité de lecture

Extreme mutation bias and high AT content in Plasmodium falciparum

William L. Hamilton, Antoine Claessens, Thomas D. Otto, Mihir Kekre, Rick M. Fairhurst, Julian C. Rayner et Dominic Kwiatkowski
Nucleic acids research, Vol.45(4), pp.1889-1901
28/02/2017
PMID: 27994033

Résumé

Genomics

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