Evaluation of SRAMs reliability for space electronics using ultrashort laser pulses

Article de revue

Frédéric Darracq, Herve Lapuyade, Pascal Fouillat, Vincent Pouget, Dean Lewis et Yves Danto

Journal of Integrated Circuits and Systems, Vol.1(3), pp.11-16

07/2006

Résumé

Electronics

Engineering Sciences

Optics

Physics

This paper proposes a complete method dedicated to the evaluation of SRAMs sensitivity to single event upsets using ultrashort laser pulses.

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Titre: Evaluation of SRAMs reliability for space electronics using ultrashort laser pulses
Créateurs - sans rôle: Frédéric Darracq - Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Herve Lapuyade - Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Pascal Fouillat - Laboratoire de l'Intégration du Matériau au Système
Vincent Pouget - Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Dean Lewis - Laboratoire de l'Intégration du Matériau au Système
Yves Danto - Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Détails de publication: Journal of Integrated Circuits and Systems, Vol.1(3), pp.11-16
Éditeur: Brazilian Microelectronics Society
Identifiants: 99162630009311
Unité académique: Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Langue: English
Type de ressource: Journal article