- Title
- Evaluation of MOS devices' total dose response using the isochronal annealing method
- Creators - without role
- Frédéric Saigné - Université de Reims Champagne-ArdenneL. Dusseau - Laboratoire d'Informatique, de Robotique et de Microélectronique de MontpellierJ. Fesquet - Laboratoire d'Informatique, de Robotique et de Microélectronique de MontpellierJ. Gasiot - Laboratoire d'Informatique, de Robotique et de Microélectronique de MontpellierR. Ecoffet - Centre National d'Études SpatialesR.D. Schrimpf - Vanderbilt UniversityK.F. Galloway - Vanderbilt University
- Publication Details
- IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.48(6), pp.2170 - 2173
- Identifiers
- 9939053809311
- Academic Unit
- Université de Montpellier
- Language
- English
- Resource Type
- Journal article
- Local Fields
- hal-01801738
Journal article
Evaluation of MOS devices' total dose response using the isochronal annealing method
IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.48(6), pp.2170 - 2173
2001
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