- Titre
- Evaluation of ELDRS Mechanisms Using Dose Rate Switching Experiments on Gated Lateral PNP Transistors
- Créateurs - sans rôle
- Yago Gonzalez-Velo - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJérôme Boch - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESFrédéric Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESNicolas J.-H. Roche - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESStephanie Perez - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJean-Roch Vaillé - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESChristelle Deneau - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESLaurent Dusseau - Université de Montpellier, Centre Spatial de l'Université de Montpellier - CSUMEric Lorfèvre - Centre National d'Études SpatialesRonald D. Schrimpf - Vanderbilt UniversityChristian Chatry - TRAD [Labège]Enoal Legoulven - TRAD [Labège]Dale G. Platteter
- Détails de publication
- IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.58(6), pp.2953 - 2960
- Identifiants
- 99150511509311
- Unité académique
- Centre Spatial de l'Université de Montpellier - CSUM; Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Journal article
- Champs locaux
- hal-01632669
Article de revue
Evaluation of ELDRS Mechanisms Using Dose Rate Switching Experiments on Gated Lateral PNP Transistors
IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.58(6), pp.2953 - 2960
12/2011
Indicateurs
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