- Title
- Effects of atmospheric neutrons and natural contamination on advanced microelectronic memories
- Creators - without role
- Frédéric Wrobel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJ. Gasiot - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESFrédéric Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESAntoine Touboul - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Publication Details
- Applied Physics Letters, Vol.93(6)
- Identifiers
- 9943952509311
- Academic Unit
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Language
- English
- Resource Type
- Journal article
- Local Fields
- hal-01630029
Journal article
Effects of atmospheric neutrons and natural contamination on advanced microelectronic memories
Applied Physics Letters, Vol.93(6)
11/08/2008
Metrics
1 Record Views