Dynamic atomic force microscopy operation based on high flexure modes of the cantilever

Article de revue scientifique

Open Access

Avec comité de lecture

Review of Scientific Instruments, Vol.77(9)

09/2006

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https://doi.org/10.1063/1.2348634Afficher

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Titre: Dynamic atomic force microscopy operation based on high flexure modes of the cantilever
Créateurs - sans rôle: Pascal Girard - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de Montpellier
M. Ramonda - Université de Montpellier
R. Arinero - Centre National de la Recherche Scientifique
Détails de publication: Review of Scientific Instruments, Vol.77(9)
Identifiants: 9934991809311
Unité académique: ICS - Ingénierie, Caractérisation et Services
Langue: Anglais
Type de ressource: Article de revue scientifique
Champs locaux: hal-01786124