- Titre
- Difference Between SET and SEU Thresholds Measured by SPA Laser Testing in a 16-nm FinFET Programmable SoC
- Créateurs - sans rôle
- Matthieu Fongral - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESVincent Pouget - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESF. Saigne - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESM. Ruffenach - Centre National d'Études SpatialesF. Malou - Centre National d'Études SpatialesJ. Mekki - Centre National d'Études Spatiales
- Détails de publication
- IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.72(8), pp.2506-2512
- Identifiants
- 99142575209311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Journal article
- Champs locaux
- hal-05381760
Article de revue
Difference Between SET and SEU Thresholds Measured by SPA Laser Testing in a 16-nm FinFET Programmable SoC
IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.72(8), pp.2506-2512
04/2025
Indicateurs
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