Development of a Homogenous Test Scheme for Bus-Based and Multiplex-Based Data Path Architectures

Article de revue

Jose Roberto de A. Amazonas, Bruno Rouzeyre et Marie Lise Flottes

ICVC : International Conference on VLSI and CAD, Vol.5(1), pp.409-411

1997

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Titre: Development of a Homogenous Test Scheme for Bus-Based and Multiplex-Based Data Path Architectures
Créateurs - sans rôle: Jose Roberto de A. Amazonas
Bruno Rouzeyre
Marie Lise Flottes
Détails de publication: ICVC : International Conference on VLSI and CAD, Vol.5(1), pp.409-411
Éditeur: 대한전자공학회
Identifiants: 99139323609311
Unité académique: Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Mtp - LIRMM
Langue: Korean
Type de ressource: Journal article