Determination of the nanoscale dielectric constant by means of a double pass method using electrostatic force microscopy

Article de revue

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Avec comité de lecture

C. Riedel, R. Arinero, Philippe Tordjeman, M. Ramonda, Gaëtan Lévêque, A. Schwartz, D. Oteyza, A. Alegria et J. Colmenero

Journal of Applied Physics, Vol.106(2)

15/07/2009

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https://doi.org/10.1063/1.3182726Afficher

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Titre: Determination of the nanoscale dielectric constant by means of a double pass method using electrostatic force microscopy
Créateurs - sans rôle: C. Riedel - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
R. Arinero - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Philippe Tordjeman - Institut de Mécanique des Fluides de Toulouse
M. Ramonda - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Gaëtan Lévêque - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
A. Schwartz - Centre de Biophysique Moléculaire
D. Oteyza
A. Alegria - Material Physics Center
J. Colmenero - Donostia International Physics Center
Détails de publication: Journal of Applied Physics, Vol.106(2)
Identifiants: 99152115909311
Unité académique: Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Langue: English
Type de ressource: Journal article
Champs locaux: hal-01791002