- Titre
- Correlation of Dynamic Parameter Modification and ASET Sensitivity in a Shunt Voltage Reference
- Créateurs - sans rôle
- N. J-H Roche - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESS. P. Buchner - United States Naval Research LaboratoryL. Dusseau - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESK. Kruckmeyer - Texas InstrumentsJ. Boch - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJ. H. Warner - United States Naval Research LaboratoryFrédéric Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESD. Mcmorrow - United States Naval Research LaboratoryG. Auriel - CEA GramatB. Azais - Direction Générale de l'Armement
- Détails de publication
- IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.59(6), pp.2756 - 2763
- Identifiants
- 99150513709311
- Unité académique
- Centre Spatial de l'Université de Montpellier - CSUM; Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Journal article
- Champs locaux
- hal-01633836
Article de revue
Correlation of Dynamic Parameter Modification and ASET Sensitivity in a Shunt Voltage Reference
IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.59(6), pp.2756 - 2763
12/2012
Indicateurs
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