- Titre
- Contrast inversion in electrostatic force microscopy imaging of trapped charges: tip–sample distance and dielectric constant dependence
- Créateurs - sans rôle
- C. Riedel - University of the Basque CountryA. Alegria - Material Physics CenterR. Arinero - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJ. Colmenero - Donostia International Physics CenterJ J Sáenz - Donostia International Physics Center
- Détails de publication
- Nanotechnology, Vol.22(34)
- Identifiants
- 99150631009311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Journal article
- Champs locaux
- hal-01632610
Article de revue
Contrast inversion in electrostatic force microscopy imaging of trapped charges: tip–sample distance and dielectric constant dependence
Nanotechnology, Vol.22(34)
26/08/2011
Indicateurs
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