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Comparing and classifying one-dimensional spatial patterns: an application to laser altimeter profiles
Article de revue   Avec comité de lecture

Comparing and classifying one-dimensional spatial patterns: an application to laser altimeter profiles

S. Ollier, D. Chessel, Pierre Couteron, R. Pelissier et J. Thioulouse
Remote Sensing of Environment, Vol.85(4), pp.453-462
06/2003

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