Combined Effects of <formula formulatype="inline"> <tex Notation="TeX">$^{60}$</tex></formula>Co Dose and High Frequency Interferences on a Discrete Bipolar Transistor

A. Doridant; Jérémy Raoult; Sylvie Jarrix; A. Blain; P. Hoffmann; N. Chatry; P. Calvel; L. Dusseau

doi:10.1109/TNS.2012.2227276

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Article de revue

Avec comité de lecture

Combined Effects of $^{60}$Co Dose and High Frequency Interferences on a Discrete Bipolar Transistor

A. Doridant, Jérémy Raoult, Sylvie Jarrix, A. Blain, P. Hoffmann, N. Chatry, P. Calvel et L. Dusseau

IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.59(6), pp.3004 - 3010

12/2012

DOI: https://doi.org/10.1109/TNS.2012.2227276

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Détails

Titre: Combined Effects of $^{60}$Co Dose and High Frequency Interferences on a Discrete Bipolar Transistor
Créateurs - sans rôle: A. Doridant - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Jérémy Raoult - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Sylvie Jarrix - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
A. Blain - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
P. Hoffmann - École Polytechnique Fédérale de Lausanne
N. Chatry - TRAD [Labège]
P. Calvel - Thales
L. Dusseau - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Détails de publication: IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.59(6), pp.3004 - 3010
Identifiants: 99150632309311
Unité académique: Centre Spatial de l'Université de Montpellier - CSUM; Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
Langue: English
Type de ressource: Journal article
Champs locaux: hal-01633501