- Titre
- Characterization of polysilicon bipolar transistors by low-frequency noise and correlation noise measurements
- Créateurs - sans rôle
- Y. Mourier - Centre National de la Recherche ScientifiqueSylvie Jarrix - Centre d'Electronique et de Micro-optoélectronique de MontpellierC. Delseny - Laboratoire d'Informatique, de Robotique et de Microélectronique de MontpellierF. Pascal - Laboratoire d'Informatique, de Robotique et de Microélectronique de MontpellierA. Pénarier - Laboratoire d'Informatique, de Robotique et de Microélectronique de MontpellierD. Gasquet - Laboratoire d'Informatique, de Robotique et de Microélectronique de Montpellier
- Détails de publication
- Semiconductor Science and Technology, Vol.16(4), pp.233-238
- Identifiants
- 9947206609311
- Unité académique
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Langue
- English
- Type de ressource
- Journal article
- Champs locaux
- hal-00323828
Article de revue
Characterization of polysilicon bipolar transistors by low-frequency noise and correlation noise measurements
Semiconductor Science and Technology, Vol.16(4), pp.233-238
2001
Indicateurs
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