Characterization of Mesostructured TiO2 Thin Layers by Ellipsometric Porosimetry

Article de revue

Avec comité de lecture

V. Rouessac, Romain Coustel, Florence Bosc, J. Durand et André Ayral

Thin Solid Films

2006

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Titre: Characterization of Mesostructured TiO2 Thin Layers by Ellipsometric Porosimetry
Créateurs - sans rôle: V. Rouessac - Université de Montpellier, Institut Européen des Membranes - IEM
Romain Coustel - École Nationale Supérieure de Chimie de Montpellier
Florence Bosc - Université de Montpellier, Institut Européen des Membranes - IEM
J. Durand - Université de Montpellier, Institut Européen des Membranes - IEM
André Ayral - Université de Montpellier, Institut Européen des Membranes - IEM
Détails de publication: Thin Solid Films
Identifiants: 99152149809311
Unité académique: Institut Européen des Membranes - IEM
Langue: English
Type de ressource: Journal article
Champs locaux: hal-00186246