- Title
- Characterisation of electromagnetic susceptibility of integrated circuits using near-field scan
- Creators - without role
- A. Boyer - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESSonia Ben Dhia - Équipe Énergie et Systèmes EmbarquésEtienne Sicard - Institut National des Sciences Appliquées de Toulouse
- Publication Details
- Electronics Letters, Vol.43(1)
- Identifiers
- 9939043809311
- Academic Unit
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Language
- English
- Resource Type
- Journal article
- Local Fields
- hal-02523686
Journal article
Characterisation of electromagnetic susceptibility of integrated circuits using near-field scan
Electronics Letters, Vol.43(1)
2007
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