- Title
- Bias Effects on Total Dose-Induced Degradation of Bipolar Linear Microcircuits for Switched Dose-Rate Irradiation
- Creators - without role
- Y. Gonzalez Velo - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESJérôme Boch - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESNicolas Jean-Henri Roche - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESStephanie Perez - Centre National de la Recherche ScientifiqueJean-Roch Vaillé - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESLaurent Dusseau - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESFrédéric Saigné - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESEric Lorfèvre - Centre National d'Études SpatialesRonald. D. Schrimpf - Vanderbilt UniversityChristian Chatry - TRAD [Labège]Anna Canals - TRAD [Labège]
- Publication Details
- IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.57(4), pp.1950 - 1957
- Identifiers
- 9943857909311
- Academic Unit
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Language
- English
- Resource Type
- Journal article
- Local Fields
- hal-01631689
Journal article
Bias Effects on Total Dose-Induced Degradation of Bipolar Linear Microcircuits for Switched Dose-Rate Irradiation
IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol.57(4), pp.1950 - 1957
08/2010
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