- Title
- Apertureless scanning microscope probe as a detector of semiconductor laser emission
- Creators - without role
- Mikhail Dunaevskiy - ITMO UniversityAnton Dontsov - Ioffe InstituteProkhor Alekseev - Saint Petersburg State Electrotechnical UniversityAndrei Monakhov - Ioffe InstituteAlexei N. Baranov - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESPaul Girard - Institut d'Électronique et des SystèmesRichard Arinero - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESRoland Teissier - Université de Montpellier, Institut d'Electronique et des Systèmes - IESAlexander Titkov - Ioffe Institute
- Publication Details
- Applied Physics Letters, Vol.106(17)
- Identifiers
- 9938494509311
- Academic Unit
- Institut d'Electronique et des Systèmes - IES
- Language
- English
- Resource Type
- Journal article
- Local Fields
- hal-01626348
Journal article
Apertureless scanning microscope probe as a detector of semiconductor laser emission
Applied Physics Letters, Vol.106(17)
27/04/2015
Metrics
1 Record Views